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集成電路自動(dòng)測試設備ic測試ate測
集成電路自動(dòng)測試設備ic測試ate測 文章 進(jìn)入集成電路自動(dòng)測試設備ic測試ate測技術(shù)社區
IC測試基本原理與ATE測試向量生成
- 集成電路測試（IC測試）主要的目的是將合格的芯片與不合格的芯片區分開(kāi)，保證產(chǎn)品的質(zhì)量與可靠性。隨著(zhù)集成電路的飛速發(fā)展，其規模越來(lái)越大，對電路的質(zhì)量與可靠性要求進(jìn)一步提高，集成電路的測試方法也變得越來(lái)越困難。因此，研究...
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集成電路自動(dòng)測試設備ic測試ate測介紹
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歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對集成電路自動(dòng)測試設備ic測試ate測的理解，并與今后在此搜索集成電路自動(dòng)測試設備ic測試ate測的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
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