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隨機缺陷
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存儲器冗余的關(guān)鍵區域分析
- 存儲器冗余旨在通過(guò)提高片芯良品率，從而降低制造成本。如果不采用冗余方法，提高片芯良品率的其它方式可能包括使設計更小型化，或減少缺陷率。如果在設計中無(wú)效益的部分使用冗余，那是浪費片芯面積和測試時(shí)間，增加了制造成本。在這兩個(gè)極端之間，要根據充分的指導方針來(lái)確定是否增加冗余。有高缺陷率的設計可能需要較多的冗余；而低缺陷率的設計則可能不需要冗余。要量化良品率的改善以及確定最佳配置，有必要采用關(guān)鍵區域分析與精確的代工廠(chǎng)缺陷統計數據，對存儲器冗余做分析。
- 關(guān)鍵字： 存儲器冗余 隨機缺陷 關(guān)鍵區域分析
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隨機缺陷介紹
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