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金屬異物
金屬異物 文章 進(jìn)入金屬異物技術(shù)社區
光電耦合器(OCEP)早期故障的可靠性研究及應用
- 通過(guò)對大量失效光耦分析研究，失效現象集中在早期，問(wèn)題統一。結合光耦失效樣品的失效現象、失效原理、及失效機理分析，從金線(xiàn)綁定異常、內部殘留金屬異物、漏打膠、晶片污染方面研究光耦的可靠性，發(fā)現主要失效是早期產(chǎn)品加工存在異常缺陷導致，產(chǎn)品在投入使用后短期內反饋異常。通過(guò)對制程的優(yōu)化改進(jìn)，如提升自動(dòng)化制造、檢測能力，不斷優(yōu)化改進(jìn)制程，提升光耦制造流程可靠性，保證產(chǎn)品可靠性。
- 關(guān)鍵字： 光耦 早期失效 金線(xiàn)綁定 金屬異物 漏打膠 晶片污染 202202
金屬異物對無(wú)線(xiàn)功率發(fā)射器溫升的影響
- 依據IEC 62368-1:2018，闡述無(wú)線(xiàn)功率發(fā)射器的溫升要求。通過(guò)比對試驗數據和結合相關(guān)經(jīng)驗，筆者認為現有標準限值過(guò)于嚴苛，建議放寬要求，或增加異物識別規定。
- 關(guān)鍵字： 202104 IEC 62368-1 無(wú)線(xiàn)功率發(fā)射器 金屬異物 溫升 異物識別
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金屬異物介紹
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