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EEPW首頁(yè) >> 主題列表 >> 誤碼測試儀

基于A(yíng)DμC7020的高速誤碼測試儀

  • 針對國內外高速誤碼測試儀價(jià)格昂貴、系統復雜的現狀，采用ADI公司的ARM7TDMI微控制器ADμC7020和Silicon Laboratoties公司生產(chǎn)的XFP收發(fā)芯片Si5040，設計一種簡(jiǎn)易、低成本的誤碼測試系統。系統由Si5040、ADμCT020和虛擬儀器Lab Windows／CVI組成。Si5040具有可編程的偽隨機碼比特流生成和比較功能，讀出誤碼值，通過(guò)ADμC7020計算得到誤碼率，并通過(guò)I2C接口與Lab Windows／CVI構成的上位機進(jìn)行通信。
  • 關(guān)鍵字： C7020  誤碼測試儀    

高速突發(fā)模式誤碼測試儀的FPGA實(shí)現方案

  • 摘要：突發(fā)模式誤碼測試儀與一般連續誤碼測試儀不同，其接收端在誤碼比對前要實(shí)現在十幾位內，對具有相位跳變特點(diǎn)的信號進(jìn)行時(shí)鐘提取和數據恢復，并且在誤碼比對時(shí)須濾除前導碼和定界符，僅對有效數據進(jìn)行誤碼統計。
  • 關(guān)鍵字： FPGA  模式  誤碼測試儀  實(shí)現方案    

基于FPGA的RS485接口誤碼測試儀的設計

  • 摘要：介紹了一種基于FPGA的誤碼測試儀的設計原理、實(shí)現過(guò)程及調試經(jīng)驗。該誤碼測試系統使用RS485接口...
  • 關(guān)鍵字： FPGA  RS485  誤碼測試儀  

FPGA配合預失真技術(shù)的解調誤碼測試儀

  • 1 引言
    工程實(shí)踐中，我們往往需要對所設計的硬件電路進(jìn)行設計檢驗以保證其正常運作，從而才能進(jìn)一步支持基于該硬件的復雜程序的正確調試。這樣，特定的相應測試系統設計就顯得尤為重要，不僅可以保證硬件的健康度，
  • 關(guān)鍵字： FPGA  預失真  解調  誤碼測試儀    
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誤碼測試儀介紹

　　誤碼測試儀是評估信道性能的基本測量?jì)x器。通過(guò)檢測數據傳輸系統的誤碼性能指標（包括誤碼率、誤碼間隔、無(wú)誤碼間隔等）對其系統傳輸質(zhì)量進(jìn)行評估。誤碼測試儀測量方法一經(jīng)提出，就在測量領(lǐng)域中獲得了廣泛的關(guān)注，諸多優(yōu)點(diǎn)已得到了廣泛認可?！　〗涌陬?lèi)型和速率齊全，功能完善，滿(mǎn)足多種數字信道測試要求；　　體積小、攜帶方便，適合各種測試需求；　　采用可充電鋰電池供電及低功耗設計，在鋰電池充足電的情況下能滿(mǎn)足4小時(shí) [ 查看詳細 ]

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