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自動(dòng)測試設備
自動(dòng)測試設備 文章 進(jìn)入自動(dòng)測試設備技術(shù)社區
自動(dòng)測試設備系統中的組件電源設計
- 組件電源（DPS）IC能夠彈性加載電壓、加載電流，為自動(dòng)測試設備（ATE）提供動(dòng)態(tài)測試能力。當負載電流在兩個(gè)可編程電流限值之間時(shí)，DPS IC為電壓源，并且在達到設定的電流限值時(shí)平穩轉換為精密電流源/灌電流。圖一為ADI新一代組件電源IC MAX32010的簡(jiǎn)化框圖。開(kāi)關(guān)FIMODE、FVMODE和FISLAVE MODE選擇不同的工作模式，例如：加載電壓（FV）、加載電流（FI）和FI Slave模式；開(kāi)關(guān)HIZF和HIZM分別選擇MV （電壓測量）和MI （電流測量）模式。RANGE MUX與外部檢流
- 關(guān)鍵字： 自動(dòng)測試設備 組件電源 ADI
Test Advantage 收購Microstats
- ?? Boston Semi Equipment Group（BSE 集團）旗下公司 Test Advantage 宣布已經(jīng)收購了位于菲律賓的一家面向自動(dòng)測試設備 (ATE) 市場(chǎng)的硬件維修中心 Microstats, LLC。這兩家公司將整合它們的產(chǎn)品、解決方案和共同的客戶(hù)群，以增強 Test Advantage 在后端半導體市場(chǎng)的產(chǎn)品和服務(wù)。 ???
- 關(guān)鍵字： Test Advantage Microstats 自動(dòng)測試設備
惠瑞捷獲“最佳測試設備供應商"大獎
- 首屈一指的半導體測試公司惠瑞捷股份有限公司(納斯達克代號：VRGY)，本次于半導體業(yè)界之主要研究暨分析公司VLSIresearch所舉辦的2011年客戶(hù)滿(mǎn)意度調查中榮膺“最佳測試設備供應商“與“10大最佳晶片制造設備大型供應商“等兩大獎項的肯定。
- 關(guān)鍵字： 惠瑞捷 自動(dòng)測試設備
BSE集團收購Test Advantage Hardware進(jìn)軍ATE資本設備
- 為了向半導體行業(yè)提供融合了設備專(zhuān)長(cháng)與創(chuàng )新金融解決方案的獨特組合，業(yè)內資深人士 Douglas Elder、Bryan Banish、Colin Scholefield 和 Sandy Garrett 今天宣布創(chuàng )辦 Boston Semi Equipment, LLC(BSE 集團)。BSE 集團由私人集資，其目標是在半導體設備行業(yè)設定新的基準，將創(chuàng )新金融解決方案與經(jīng)驗、專(zhuān)長(cháng)和基礎設施結合起來(lái)，以支持全新和二手半導體生產(chǎn)設備的租賃、銷(xiāo)售、訂制改造和服務(wù)。 傳統的資本設備融資解決方案過(guò)去一直無(wú)法支持
- 關(guān)鍵字： 半導體設備 自動(dòng)測試設備
SOC芯片設計與測試
- 摘要：SOC已經(jīng)成為集成電路設計的主流。SOC測試變得越來(lái)越復雜，在設計時(shí)必須考慮DFT和DFM。本文以一SOC單芯片系統為例，在其設計、測試和可制造性等方面進(jìn)行研究，并詳細介紹了SOC測試解決方案及設計考慮。 關(guān)鍵詞：?jiǎn)涡酒到y；面向測試設計；面向制造設計；位失效圖；自動(dòng)測試設備 引言 以往的系統設計是將CPU，DSP，PLL，ADC，DAC或Memory等電路設計成IC后，再加以組合變成完整的系統，但現今的設計方式是
- 關(guān)鍵字： SOC 單芯片系統 面向測試設計 面向制造設計 位失效圖 自動(dòng)測試設備
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自動(dòng)測試設備介紹
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