米勒調制副載波 文章 進(jìn)入米勒調制副載波技術(shù)社區

復雜RF環(huán)境下的RFID測試挑戰

• 亞微米互補金屬氧化物半導體(CMOS)的最新發(fā)展，可望進(jìn)一步擴展RFID技術(shù)的應用。高精度供應鏈管理、無(wú)接觸POS交易、防偽和資產(chǎn)追蹤/監測技術(shù)所帶來(lái)的各項優(yōu)勢，正推動(dòng)著(zhù)RFID技術(shù)的迅速普及。但是，這種新技術(shù)自身也面臨著(zhù)許多測試挑戰。本文討論復雜RFID工作環(huán)境中的測試挑戰，包括多個(gè)閱讀器、密集模式環(huán)境和預先存在的非RFID信號可能引起的吞吐量和通信問(wèn)題。
• 關(guān)鍵字： 泰克  RF  RFID  工作環(huán)境  米勒調制副載波  任意波形發(fā)生器  實(shí)時(shí)頻譜儀  200906