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白光干涉儀
白光干涉儀介紹
白光干涉儀SIS系列采用增加相位掃描干涉技術(shù),是專(zhuān)為準確測量表面輪廓、粗糙度、臺階高度和其他表面參數而設計的微納米測量系統,,為韓國SAMSUNG全球唯一指定供應商,LPL友好俱樂(lè )部成員,清華大學(xué),臺灣大學(xué),首爾大學(xué)友好合作伙伴?! ?、非接觸式測量:避免物件受損?! ?、三維表面測量:表面高度測量范圍為1nm-200μm?! ?、多重視野鏡片:方便物鏡的快速切換?! ?、納米級分辨率:垂直分 [ 查看詳細 ]
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