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特性測試
特性測試 文章 進(jìn)入特性測試技術(shù)社區
超快速I(mǎi)V測試技術(shù)簡(jiǎn)介-半導體器件特性測試的變革
- 超快速I(mǎi)V測量技術(shù)是過(guò)去十年里吉時(shí)利推出的最具變革性的方法和儀器，吉時(shí)利一直以其高精度高品質(zhì)的SMU即原測試單元而著(zhù)稱(chēng)，吉時(shí)利的原測試單元在過(guò)去的三十年里一直被當做直流伏安測試的標準，一些著(zhù)名的產(chǎn)品例如236
- 關(guān)鍵字： IV測試 技術(shù)簡(jiǎn)介 半導體器件 特性測試
WLAN器件開(kāi)發(fā)和網(wǎng)絡(luò )規劃中關(guān)鍵特性測試
- WLAN技術(shù)帶來(lái)了新挑戰，如何才能有效地消除干擾？WLAN基站和接入點(diǎn)功率管理的效率如何？這些問(wèn)題必須通過(guò)綜合測試方案加以解決，本文專(zhuān)門(mén)論述了WLAN器件開(kāi)發(fā)和網(wǎng)絡(luò )規劃中關(guān)鍵特性測試的意義和優(yōu)勢。WLAN技術(shù)為半導體
- 關(guān)鍵字： WLAN 器件 網(wǎng)絡(luò )規劃 特性測試
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特性測試介紹
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