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靈敏測試
靈敏測試 文章 進(jìn)入靈敏測試技術(shù)社區
【4200 SMU應用文章】之實(shí)例篇：支持千倍以上負載電容的靈敏測試
- 使用長(cháng)電纜或電容夾頭的測試設置會(huì )增加測試儀器輸出的電容，導致測量結果不準確或不穩定。當輸出或掃描直流電壓并測量異常靈敏的低電流時(shí)，能觀(guān)察到這種效應。為了應對這些挑戰，泰克為吉時(shí)利4200A-SCS參數分析儀引入了兩個(gè)新的源測量單元（SMU）模塊，即使在測試連接電容較高的應用中，該模塊也可以進(jìn)行穩定的低電流測量。節能的要求越來(lái)越高，這就需要越來(lái)越低的電流，這是一個(gè)日益嚴峻的測量挑戰，如測試智能手機或平板電腦的大型LCD面板。高電容測試連接可能會(huì )出現問(wèn)題的應用，還包括：探卡上的納米FET I-V測量，使用長(cháng)電
- 關(guān)鍵字： SMU 靈敏測試
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靈敏測試介紹
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