EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
測試驅動(dòng)開(kāi)發(fā)
測試驅動(dòng)開(kāi)發(fā) 文章 進(jìn)入測試驅動(dòng)開(kāi)發(fā)技術(shù)社區
TDD-嵌入C語(yǔ)言的測試驅動(dòng)開(kāi)發(fā)
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò )家園
- 關(guān)鍵字： TDD 測試驅動(dòng)開(kāi)發(fā) bug
| 共1條 1/1 1 |
測試驅動(dòng)開(kāi)發(fā)介紹
測試驅動(dòng)開(kāi)發(fā)-簡(jiǎn)介
測試驅動(dòng)開(kāi)發(fā)（Test Driven Development,英文縮寫(xiě)TDD）是極限編程的一個(gè)重要組成部分，它的基本思想就是在開(kāi)發(fā)功能代碼之前，先編寫(xiě)測試代碼。也就是說(shuō)在明確要開(kāi)發(fā)某個(gè)功能后，首先思考如何對這個(gè)功能進(jìn)行測試，并完成測試代碼的編寫(xiě)，然后編寫(xiě)相關(guān)的代碼滿(mǎn)足這些測試用例。然后循環(huán)進(jìn)行添加其他功能，直到完成全部功能的開(kāi)發(fā)。代碼整潔可用(clean code t [ 查看詳細 ]
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì )員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473