EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
測試系統fpga測
測試系統fpga測 文章 進(jìn)入測試系統fpga測技術(shù)社區
基于測試系統的FPGA測試方法研究
- 1引言目前FPGA大多采用基于查找表技術(shù)，主要由可編程輸入/輸出單元(IOB)、可編程邏輯單元(CLB)、可編程布線(xiàn)資源(PI)、配置用的SRAM、BlockRAM和數字延遲鎖相環(huán)(DLL)等部分組成。對FPGA進(jìn)行測試要對FPGA內部可能包含的...
- 關(guān)鍵字： 測試系統FPGA測
| 共1條 1/1 1 |
測試系統fpga測介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng )建詞條測試系統fpga測!
歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對測試系統fpga測的理解，并與今后在此搜索測試系統fpga測的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對測試系統fpga測的理解，并與今后在此搜索測試系統fpga測的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì )員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473