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測試數據
測試數據 文章 進(jìn)入測試數據技術(shù)社區
TI Designs:TI參考設計助你加快產(chǎn)品上市
- 電子產(chǎn)品世界,為電子工程師提供全面的電子產(chǎn)品信息和行業(yè)解決方案,是電子工程師的技術(shù)中心和交流中心,是電子產(chǎn)品的市場(chǎng)中心,EEPW 20年的品牌歷史,是電子工程師的網(wǎng)絡(luò )家園
- 關(guān)鍵字: 嵌入式處理 無(wú)線(xiàn)連接 BOM 測試數據
基于Labwindows/CVI的測試系統數據庫設計
- 關(guān)鍵字: 數據庫 Labwindows/CVI SQL 測試數據
NI發(fā)布新版DIAdem軟件有效提供高級數據管理功能

- 美國國家儀器有限公司(National Instruments,簡(jiǎn)稱(chēng)NI)近日發(fā)布可交互式管理、分析、顯示以及對測試數據生成報告的最新版軟件工具——NI DIAdem 11.1,該版本軟件針對高級開(kāi)發(fā)和自動(dòng)化分析應用增加了新特性和以及數據篩選功能。當前測試環(huán)境下,要求工程師們快速處理大量分散數據、生成報表以及進(jìn)行數據顯示,DIAdem就是設計用來(lái)滿(mǎn)足這種需求并幫助工程師們快速做出決策。通過(guò)DIAdem, 工程師們可以更快地對采集或者仿真得到的數據進(jìn)行管理、挖掘、分析并生成報告,
- 關(guān)鍵字: NI DIAdem 測試數據
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