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相控陣天線(xiàn)有源駐波測試

• 天線(xiàn)在實(shí)際工作時(shí)，除了輻射信號，由于自身的原因會(huì )在其端口存在駐波，而相控陣天線(xiàn)的天線(xiàn)單元間還存在互耦效應，使得天線(xiàn)的駐波增大，會(huì )對發(fā)射機功放組件造成一定損壞。因此在設計相控陣天線(xiàn)時(shí)，必須考慮此駐波及其影響。針對相控陣天線(xiàn)有源駐波測試的需求，提出利用多通道相參信號源模擬相控陣實(shí)際掃描狀態(tài)，從而進(jìn)行相控陣輻射狀態(tài)下的有源駐波測試。1  引言相控陣天線(xiàn)處于工作狀態(tài)（發(fā)射或者接收）時(shí)，天線(xiàn)單元之間存在一定的電磁能量耦合，即互耦效應?；ヱ钚拇嬖诟淖兞颂炀€(xiàn)單元的阻抗特性，影響了陣列天線(xiàn)的波束形狀和增益。
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