EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
明場(chǎng)納米圖形
明場(chǎng)納米圖形 文章 進(jìn)入明場(chǎng)納米圖形技術(shù)社區
國內首臺40nm明場(chǎng)納米圖形晶圓缺陷檢測設備發(fā)布
- 近日，天準科技參股的蘇州矽行半導體技術(shù)有限公司（以下簡(jiǎn)稱(chēng)“矽行半導體”）宣布，公司面向40nm技術(shù)節點(diǎn)的明場(chǎng)納米圖形晶圓缺陷檢測設備TB1500已完成廠(chǎng)內驗證，標志著(zhù)國產(chǎn)半導體高端檢測設備實(shí)現了新的突破。這是繼去年8月，天準科技正式交付面向12英寸晶圓65~90nm技術(shù)節點(diǎn)的寬波段明場(chǎng)缺陷檢測設備TB1000不到一年后，再次取得的階段性新進(jìn)展。資料顯示，矽行半導體成立于2021年11月，專(zhuān)注于高端晶圓缺陷檢測設備及零部件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷(xiāo)售。本次產(chǎn)品TB1500是矽行半導體最新的研發(fā)成果，核心關(guān)鍵部件全部實(shí)
- 關(guān)鍵字： 40nm 明場(chǎng)納米圖形 晶圓缺陷檢測
| 共1條 1/1 1 |
明場(chǎng)納米圖形介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng )建詞條明場(chǎng)納米圖形!
歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對明場(chǎng)納米圖形的理解，并與今后在此搜索明場(chǎng)納米圖形的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對明場(chǎng)納米圖形的理解，并與今后在此搜索明場(chǎng)納米圖形的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì )員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473