EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
損壞過(guò)應力分析
損壞過(guò)應力分析 文章 進(jìn)入損壞過(guò)應力分析技術(shù)社區
你的電源IC是如何失效的？電源IC損壞過(guò)應力分析
- 在我們項目開(kāi)發(fā)和產(chǎn)品量產(chǎn)過(guò)程中總是會(huì )出現一些 IC 損壞的現象，通常要想找出這些 IC損壞的根本原因并不總是很容易。有些偶發(fā)性的損壞很難被重現，這時(shí)的難度就會(huì )更大。而且有些時(shí)候 IC 的失效表現簡(jiǎn)直就是破壞性的，可能IC已經(jīng)被燒得一塌糊涂，即使求助IC原廠(chǎng)分析，往往也不一定能找出失效的根本原因，出現這種情況，作為工程師的你估計頭皮要感覺(jué)到陣陣發(fā)麻了。電源 IC 的失效常常是其輸入端受到電氣過(guò)應力（ EOS）的結果。在很多情況下，器件失效的原因都是輸入電壓太高了。本文對電源 IC 輸入端 ESD
- 關(guān)鍵字： 電源IC 損壞過(guò)應力分析
| 共1條 1/1 1 |
損壞過(guò)應力分析介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng )建詞條損壞過(guò)應力分析!
歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對損壞過(guò)應力分析的理解，并與今后在此搜索損壞過(guò)應力分析的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對損壞過(guò)應力分析的理解，并與今后在此搜索損壞過(guò)應力分析的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì )員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473