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實(shí)例分享！BMS采樣板針對低頻磁場(chǎng)抗擾測試解決方案

• 通常汽車(chē)零部件受到的磁場(chǎng)干擾可以分為內部或外部干擾源干擾，其中內部干擾源包括汽車(chē)的電動(dòng)馬達、制動(dòng)器等；而外部干擾源包括功率傳輸線(xiàn)、充電站等。低頻磁場(chǎng)抗擾測試 MFI 的方法是將 DUT 暴露在干擾磁場(chǎng)中進(jìn)行測試。輻射環(huán)可以產(chǎn)生干擾磁場(chǎng)，還可以用于小型 DUT 測試，或者采用多點(diǎn)放置的方法來(lái)測試大型 DUT。本文由ADI代理商駿龍科技工程師Ai Wei為大家介紹一種 BMS 采樣板針對低頻磁場(chǎng)抗擾測試的解決方案。MFI 測試設置低頻磁場(chǎng)抗擾 MFI 測試布置如下圖 (圖1) 所示，DUT 的每個(gè)面都要劃分成
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