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開(kāi)環(huán)測試
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輸入失調電壓的開(kāi)環(huán)測試
- 輸入失調電壓(VIO)是電壓比較器(以下簡(jiǎn)稱(chēng)比較器)一個(gè)重要的電性能參數，GB/T 6798－1996中，將其定義為“使輸出電壓為規定值時(shí)，兩輸入端間所加的直流補償電壓”。傳統測試設備大都采用“被測器件(DU
- 關(guān)鍵字： 輸入 失調電壓 開(kāi)環(huán)測試
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開(kāi)環(huán)測試介紹
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