延時(shí)校準 文章 進(jìn)入延時(shí)校準技術(shù)社區

延時(shí)校準、脈沖測試一定要做的事兒！

• 進(jìn)行雙脈沖測試的主要目的是獲得功率半導體的開(kāi)關(guān)特性，可以說(shuō)它伴隨著(zhù)功率器件從研發(fā)制造到應用的整個(gè)生命周期?；陔p脈沖測試獲得的器件開(kāi)關(guān)波形可以做很多事情，包括：通過(guò)對開(kāi)關(guān)過(guò)程的分析驗證器件設計方案并提出改進(jìn)方向、提取開(kāi)關(guān)特征參數制作器件規格書(shū)、計算開(kāi)關(guān)損耗和反向恢復損耗為電源熱設計提供數據支撐、不同廠(chǎng)商器件開(kāi)關(guān)特性的對比等。測量延時(shí)的影響被測信號在測量過(guò)程中會(huì )經(jīng)歷兩次延時(shí)，不同信號所經(jīng)歷延時(shí)的差別會(huì )對測量結果造成一定的影響。一次延時(shí)是示波器模擬前端的延時(shí)，索性示波器不同通道間延時(shí)差別在 ps 級別，對于
• 關(guān)鍵字： Tektronix  延時(shí)校準  脈沖測試