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并行測試
并行測試 文章 進(jìn)入并行測試技術(shù)社區
一種創(chuàng )新的晶圓級熱載子并行測試方法
- 引言
隨著(zhù)VLSI集成度的日益提高，MOS器件尺寸不斷縮小至亞微米乃至深亞微米，熱載子效應已成為最嚴重的可靠性問(wèn)題之一?，F今,為了降低成本,減少周期,不斷的提高工藝,晶圓級的器件可靠性測試愈來(lái)愈被廣泛的應用?？v觀(guān) - 關(guān)鍵字： 創(chuàng )新 并行測試 晶圓級 方法
Keithley測試軟件增強并行測試、RF測試功能和軟件易用性
- 美國吉時(shí)利（Keithley）儀器公司（NYSE代碼：KEI）日前發(fā)布面向S600系列參數測試系統的Keithley交互式測試平臺軟件KTE V5.2版。KTE V5.2所具備的多種功能大大提高了前沿電路材料測試的吞吐量（如RF頻率測試），并增強了研發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中所涉及的并行測試能力。此外，經(jīng)過(guò)升級的KTE V5.2軟件還大大增強了易用性、簡(jiǎn)化了測試工作。 最新發(fā)布的KTE軟件傳承了吉時(shí)利（Keithley）不斷改進(jìn)測試平臺和增強固定設備重用性方面的一貫承諾，將助于測試工程師
- 關(guān)鍵字： Keithley RF測試功能 并行測試 參數測試軟件 測量 測試 軟件易用性 升級版 測試測量
Keithley最新升級版參數測試軟件增強并行測試、RF測試功能和軟件易用性
- 吉時(shí)利（Keithley）儀器公司（NYSE代碼：KEI）日前發(fā)布面向S600系列參數測試系統的Keithley交互式測試平臺軟件KTE V5.2版。KTE V5.2所具備的多種功能大大提高了前沿電路材料測試的吞吐量（如RF頻率測試），并增強了研發(fā)和生產(chǎn)過(guò)程中所涉及的并行測試能力。此外，經(jīng)過(guò)升級的KTE V5.2軟件還大大增強了易用性、簡(jiǎn)化了測試工作。 最新發(fā)布的KTE軟件傳承了吉時(shí)利（Keithley）不斷改進(jìn)測試平臺和增強固定設備重用性方面的一貫承諾，將助于測試工程師們降
- 關(guān)鍵字： Keithley RF測試功能 并行測試 參數測試軟件 測量 測試 軟件易用性 測試測量
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并行測試介紹
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