差分電容 文章 進(jìn)入差分電容技術(shù)社區

一種直接測量運算放大器輸入差分電容的方法

• 輸入電容可能會(huì )成為高阻抗和高頻運算放大器(op amp)應用的一個(gè)主要規格。值得注意的是，當光電二極管的結電容較小時(shí)，運算放大器的輸入電容會(huì )成為噪聲和帶寬問(wèn)題的主導因素。運算放大器的輸入電容和反饋電阻在放大器的響應中產(chǎn)生一個(gè)極點(diǎn)，從而影響穩定性并增加較高頻率下的噪聲增益。因此，穩定性和相位裕量可能會(huì )降低，輸出噪聲可能會(huì )增加。實(shí)際上，以前的一些CDM（差模電容）測量技術(shù)依據的是高阻抗反相電路、穩定性分析以及噪聲分析。這些方法可能會(huì )非常繁瑣。在諸如運算放大器之類(lèi)的反饋放大器中，總有效輸入電容由CDM與負輸入共
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