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關(guān)于集成運算放大器參數測試儀校準裝置研究

  • 集成運算放大器（以下簡(jiǎn)稱(chēng)集成運放）以小尺寸、輕重量、低功耗、高可靠性等優(yōu)點(diǎn)廣泛應用于眾多軍用和民用電子系...
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集成運算放大器參數測試儀校準技術(shù)研究

  • 設計背景集成運算放大器(以下簡(jiǎn)稱(chēng)集成運放)以小尺寸、輕重量、低功耗、高可靠性等優(yōu)點(diǎn)廣泛應用于眾多軍用和民用電子系統，是構成智能武器裝備電子系統關(guān)鍵器件之一。近年來(lái)，隨著(zhù)微電子技術(shù)飛速發(fā)展，集成運放無(wú)論在
  • 關(guān)鍵字： 集成運算放大器  參數測試儀  校準  技術(shù)研究    

BJT參數測試儀中數控微電流源研究與實(shí)現

  • 在數字式BJT(Bipolar Junction Transistor，雙極面結型晶體管)參數測試系統中為了準確測量交直流放大倍數、輸入／輸出特性曲線(xiàn)等特性參數，需要在被測三極管的基極加合適的偏置電壓，并且所加的偏置電壓根據測試的具
  • 關(guān)鍵字： BJT  參數測試儀  數控  微電流    

集成運算放大器參數測試儀校準裝置

  • 集成運算放大器（以下簡(jiǎn)稱(chēng)集成運放）以小尺寸、輕重量、低功耗、高可靠性等優(yōu)點(diǎn)廣泛應用于眾多軍用和民用電子系統，是構成智能武器裝備電子系統的關(guān)鍵器件之一。近年來(lái)，隨著(zhù)微電子技術(shù)的飛速發(fā)展，集成運放無(wú)論在技
  • 關(guān)鍵字： 集成運算放大器  參數測試儀  校準  裝置    

太陽(yáng)能環(huán)境參數測試儀的系統設計

  • 摘 要 介紹了一種基于A(yíng)T89S52單片機的太陽(yáng)能環(huán)境參數測試儀，詳細闡明了環(huán)境參數測試儀的軟硬件設計與實(shí)現方法。該測試儀能對溫度、濕度和照度進(jìn)行實(shí)時(shí)測量顯示，并通過(guò)RS485工業(yè)總線(xiàn)將采集數據傳送至遠端上位機。
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參數測試儀介紹

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