半導體自動(dòng)化測試 文章 進(jìn)入半導體自動(dòng)化測試技術(shù)社區

從半導體自動(dòng)化測試撬動(dòng)更廣泛應用場(chǎng)景，ADI多款創(chuàng )新方案樹(shù)立電子測試測量技術(shù)標桿

• “工欲善其事，必先利其器”?？茖W(xué)史上的許多重大突破，往往源于新的觀(guān)測手段和測量技術(shù)的進(jìn)步。在現代電子工業(yè)中，半導體器件作為核心組件，其性能和可靠性直接決定了最終產(chǎn)品的品質(zhì)和功能，對這些器件進(jìn)行精確全面的測試測量變得尤為重要。近日在行業(yè)重磅展會(huì )上，全球領(lǐng)先的半導體公司ADI在現場(chǎng)帶來(lái)了儀器儀表應用領(lǐng)域的一系列創(chuàng )新方案，如ADI儀器儀表事業(yè)部高級市場(chǎng)經(jīng)理姜海濤所表示，這些板卡級方案以高精度、小型化以及易于集成的優(yōu)勢，契合客戶(hù)痛點(diǎn)，是新時(shí)代電子測試測量的標桿樣本。激增的市場(chǎng)，如何滿(mǎn)足半導體自動(dòng)化測試多樣化需求？
• 關(guān)鍵字： 半導體自動(dòng)化測試  ADI  測試測量