EEPW首頁(yè) >>
主題列表 >>
內存測試
內存測試 文章 進(jìn)入內存測試技術(shù)社區
效率最好的內存測試電路開(kāi)發(fā)環(huán)境
- 1.概述：整合性?xún)却孀晕覝y試電路產(chǎn)生環(huán)境-Brains Brains是從整體的芯片設計切入，利用硬件架構共享的觀(guān)念，可以大幅減少測試電路的門(mén)數?(Gate?Count)，并且讓使用者能輕易產(chǎn)生優(yōu)化的BIST電路。Brains可以自動(dòng)的判讀內存并將其分群?(Grouping)，從產(chǎn)品設計前端大幅提升測試良率、降低測試成本，提高產(chǎn)業(yè)競爭力。Brains的五級到七級的彈性化管線(xiàn)式架構，可以滿(mǎn)足快速內存測試的需求，目前最高測試的速度已經(jīng)可以達到1.2GHz，整體BIST電路的門(mén)
- 關(guān)鍵字： 內存測試 Brains
| 共1條 1/1 1 |
內存測試介紹
您好，目前還沒(méi)有人創(chuàng )建詞條內存測試!
歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對內存測試的理解，并與今后在此搜索內存測試的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
歡迎您創(chuàng )建該詞條，闡述對內存測試的理解，并與今后在此搜索內存測試的朋友們分享。 創(chuàng )建詞條
關(guān)于我們 -
廣告服務(wù) -
企業(yè)會(huì )員服務(wù) -
網(wǎng)站地圖 -
聯(lián)系我們 -
征稿 -
友情鏈接 -
手機EEPW
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473
Copyright ?2000-2015 ELECTRONIC ENGINEERING & PRODUCT WORLD. All rights reserved.
《電子產(chǎn)品世界》雜志社 版權所有 北京東曉國際技術(shù)信息咨詢(xún)有限公司
京ICP備12027778號-2 北京市公安局備案：1101082052 京公網(wǎng)安備11010802012473