會(huì )議主題：高性能測試系統捕獲復雜信號背后的玄機
指導單位：中國電子信息產(chǎn)業(yè)集團有限公司、美國國際數據集團 (IDG)
主辦單位：中國電子國際展覽廣告有限責任公司、《電子產(chǎn)品世界》雜志社
承辦單位：《電子產(chǎn)品世界》雜志社
會(huì )議時(shí)間： 2016年5月12日
會(huì )議地點(diǎn)：中國國際展覽中心（老館）
會(huì )議形式：技術(shù)演講 + 儀器展示
國際測試儀器應用技術(shù)大會(huì )主題方向
1、高頻無(wú)線(xiàn)信號的捕獲與分析；
2、LTE及MIMO信號的測試方案；
3、毫米波微波信號的特點(diǎn)及測試技巧；
2、LTE及MIMO信號的測試方案；
3、毫米波微波信號的特點(diǎn)及測試技巧；
4、高可靠性的測試系統方案和測試技巧；
5、復雜自動(dòng)化測試的架設和應用；
6、高頻無(wú)線(xiàn)信號的捕獲和分析
5、復雜自動(dòng)化測試的架設和應用；
6、高頻無(wú)線(xiàn)信號的捕獲和分析
