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移動(dòng)倡議綠色無(wú)線(xiàn)接入 C-RAN體現5大優(yōu)勢
- 2010年4月23日，由中國移動(dòng)研究院主辦的無(wú)線(xiàn)接入網(wǎng)綠色演進(jìn)（C-RAN）國際研討會(huì )在北京舉行。中國移動(dòng)研究院副院長(cháng)...
- 關(guān)鍵字： C-RAN
基于嵌基于μC/OS-II嵌入式實(shí)時(shí)操作系統的低功耗開(kāi)發(fā)
- 基于嵌基于μC/OS-II嵌入式實(shí)時(shí)操作系統的低功耗開(kāi)發(fā), 隨著(zhù)嵌入式系統應用的日益廣泛，如何實(shí)現嵌入式系統的低功耗開(kāi)發(fā)已經(jīng)成為嵌入式應用發(fā)展的關(guān)鍵技術(shù)之一，是近幾年來(lái)人們在嵌入式系統的設計中普遍關(guān)注的難點(diǎn)與熱點(diǎn)。嵌入式系統正被廣泛應用于移動(dòng)性較強的產(chǎn)品中去
- 關(guān)鍵字： 操作系統 實(shí)時(shí) C/OS-II 嵌入式 低功耗
半導體C-V測量基礎
- 通用測試 電容-電壓(C-V)測試廣泛用于測量半導體參數，尤其是MOSCAP和MOSFET結構。此外，利用C-V測量還可以對其他類(lèi)型的半導體器件和工藝進(jìn)行特征分析，包括雙極結型晶體管(BJT)、JFET、III-V族化合物器件、光伏電池、MEMS器件、有機TFT顯示器、光電二極管、碳納米管(CNT)和多種其他半導體器件。 這類(lèi)測量的基本特征非常適用于各種應用和培訓。大學(xué)的研究實(shí)驗室和半導體廠(chǎng)商利用這類(lèi)測量評測新材料、新工藝、新器件和新電路。C-V測量對于產(chǎn)品和良率增強工程師也是極其重要的，
- 關(guān)鍵字： 吉時(shí)利 C-V測試 半導體 MOSFET MOSCAP
handel-c介紹
一、簡(jiǎn)介
Handle-C為新一代硬件描述語(yǔ)言編譯工具，過(guò)去因為太復雜而不能用硬件描述語(yǔ)言表示的算法以及由于處理器運行速度太慢而不能處理的算法，現在都可以利用Handle-C語(yǔ)言在大規模FPGA硬件上得以實(shí)現。設計者可以利用Handle-C語(yǔ)言，能在很短的時(shí)間里創(chuàng )建更龐大、更復雜和更高速的系統。
可編程邏輯器件的設計方法經(jīng)歷了布爾等式、原理圖輸入、硬件描述語(yǔ)言這樣一個(gè)發(fā)展過(guò)程。隨 [ 查看詳細 ]
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