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如何選用合適的探針
作者：
時(shí)間：2013-07-05
來(lái)源：網(wǎng)絡(luò )
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使用的桿可以有多種材料可供選擇 – 不銹鋼，碳化鎢，陶瓷和各種特殊的碳纖維材料“Renishaw GF”。 – 這些結構簡(jiǎn)單的紅寶石探針更適合于多種檢測應用場(chǎng)合。
探針的有效的工作長(cháng)度（EWL）是桿在觸測被測元素之前紅寶石球的變動(dòng)范圍。
如何來(lái)選擇球的尺寸和探針的EWL是由待檢測的元素的尺寸決定的。盡可能選擇大的紅寶石探針球和盡可能短的桿，可以保證最大的球/桿距離，這樣可提供更有效的EWL。使用更大一些的紅寶石球可以降低待測組件表面粗糙度的影響。
當使用長(cháng)的探針和加長(cháng)桿組合來(lái)測量時(shí)，不推薦使用標準的動(dòng)態(tài)觸測測頭，由于這種情況下使用時(shí)探針容易彎曲變形，剛性會(huì )降低，精度也會(huì )損失。這和使用其他類(lèi)型的測頭如允許有彈性變形的測頭，它們的觸測力非常低，允許使用長(cháng)的探針和加長(cháng)桿組合，而不會(huì )帶來(lái)明顯的精度損失。
星型探針
這些探針組合在一起允許你使用多探針測頭來(lái)測量復雜的元素和孔。四個(gè)或五個(gè)紅寶石探針安裝在剛性的不銹鋼中心上?？商峁藴食叽缣结?，也可以選擇不同的探針，你可以使用五方向探針和任一個(gè)RENISHAW提供的探針來(lái)組合星型測頭。 
星型探針可用于檢測多種不同的元素。使用多探針測頭可以有效降低檢測時(shí)間。減少在測量諸如邊緣或凹槽等內部特征時(shí)移動(dòng)測頭到極限點(diǎn)的需要?？梢允褂眯切蜏y頭在Z方向進(jìn)行有效的檢查，這是由于探針可以探測到探針體的直徑范圍外側。星型探針上的每個(gè)探針都要求校準，這和單探針校準方式一樣。
圓盤(pán)探針
這些探針用于測量鉆孔的切口和凹槽，通常用星型測頭是探測不到的?？梢詫⑺鼈兿胂蟪汕蚨确浅：玫那颉敖孛妗?，有多種直徑選擇和厚度選項。所有的旋轉調整和增加中心探針的能力都是RENISHAW圓盤(pán)探針的觸測范圍，使其具有柔性和易于使用。 
用簡(jiǎn)單圓盤(pán)的“球型邊緣”來(lái)探測和使用相當的大探針球是同樣有效的。然而，使用球型探爭時(shí)，球表面的小區域接觸工件，而薄的圓盤(pán)卻要求精細的角度校正，以便保證正確地觸測待測工件。
簡(jiǎn)單圓盤(pán)僅僅要求一個(gè)直徑的驗證數據（通常在環(huán)行量規中），但只限制在X 和 Y 兩個(gè)方向中。
考慮探測深的鉆孔底部會(huì )帶來(lái)的額外的柔性變形，圓盤(pán)也允許有帶螺紋的中心以便可以固定中心測桿（接近圓盤(pán)也是有限的）。
特殊應用的探針
多種專(zhuān)用探針可以用來(lái)測量多類(lèi)元素諸如：螺紋體，薄截面材料，工具箱以及其他專(zhuān)業(yè)應用。 
圓柱探針
用于探測薄壁材料的孔。此外，各種帶螺紋的元素可以被探測，螺紋中心被定位。球端圓柱探針允許多角度采集數據和在X，Y，Z三個(gè)方向探測，這樣可以進(jìn)行表面檢測。
尖探針和陶瓷中空球狀探針
設計尖狀探針是為了檢測螺紋體，特殊的點(diǎn)和劃線(xiàn)。圓端尖探針允許更精確的測量和特征元素的探測?？梢杂糜诟〉目椎臋z測。 
陶瓷材料的中空球狀探針對于探測X，Y和Z三個(gè)方向比較深的元素和鉆孔都是理想的。僅需要一個(gè)探測桿。在這個(gè)范圍有兩型號是直徑18 mm和30 mm。這些探針通常被設計與TP2/TP20/TP200和TP6來(lái)配合使用。大直徑球的探測可減小粗糙表面的影響。(end)
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