電壓比較器VIO的開(kāi)環(huán)測試(圖)
——
作者：國電公司自動(dòng)化研究院 王衛民 謝力
時(shí)間：2007-02-06
來(lái)源：
收藏
加入技術(shù)交流群
掃碼加入
和技術(shù)大咖面對面交流
海量資料庫查詢(xún)
輸入失調電壓(vio)是電壓比較器(以下簡(jiǎn)稱(chēng)比較器)一個(gè)重要的電性能參數，gb/t 6798－1996中，將其定義為“使輸出電壓為規定值時(shí)，兩輸入端間所加的直流補償電壓”。傳統測試設備大都采用“被測器件(dut，device under test)－輔助運放”的測試模式，測試原理圖見(jiàn)圖1。
在輔助運放a的作用下，整個(gè)系統構成穩定的閉環(huán)網(wǎng)絡(luò )，從而使vd=0，則
vc = -vs1
評論