淺談TD-SCDMA智能天線(xiàn)基本原理和測試方法

針對第3項測試（共需要9個(gè)端口），RS ZVT只需要兩步就可完成（如圖6和圖7所示），同時(shí)結合Trace Math（軌跡計算，對多個(gè)軌跡進(jìn)行任意的計算，以擴展測量功能）功能，可以實(shí)時(shí)的計算并顯示各通道幅度/相位一致性（如圖8所示）。

圖6 RS ZVT 針對智能天線(xiàn)幅度相位一致性的測試（第1步）

圖7 RS ZVT 針對智能天線(xiàn)幅度相位一致性的測試（第2步）

圖8 典型的幅度一致性測試結果（校準口到各天線(xiàn)端口）

針對第4項測試，借助結合RS ZVT的強大的Trace Math功能，可以將公式（2.3）中的θ編入ZVT的公式編輯器中，結合RS ZVT測量的全矩陣（2.4），可以實(shí)時(shí)地顯示各端口的有源反射系數，典型的測量結果如圖9，圖10所示：

圖9 智能天線(xiàn)端口1的有源反射系數（k*d*sinθ=π/3條件下）

其中：k=2*π/λ,d=相鄰天線(xiàn)單元的間隔（此兩項為常量）；

θ為智能天線(xiàn)合成波束的掃描角（此項為變量）

圖10 智能天線(xiàn)端口1的有源反射系數（k*d*sinθ=π/5條件下）

其中：k=2*π/λ,d=相鄰天線(xiàn)單元的間隔（此兩項為常量）；θ為智能天線(xiàn)合成波束的掃描角（此項為變量）。

由圖9，圖10可知，利用ZVT的8端口和強大的Trace Math功能，可以實(shí)時(shí)的顯示任意掃描角下的各端口有源反射系數，為智能天線(xiàn)系統的研發(fā)和生產(chǎn)測試提供了極大的便利。

4 結束語(yǔ)

智能天線(xiàn)比普通天線(xiàn)復雜得多，對智能天線(xiàn)系統的性能評估也比較復雜。在研發(fā)和生產(chǎn)階段必須對智能天線(xiàn)進(jìn)行全面測試，這樣才能對其性能進(jìn)行全面的考核，將智能天線(xiàn)的優(yōu)勢發(fā)揮出來(lái)。使用一般的2端口或4端口矢網(wǎng)很難全面、快速地測試智能天線(xiàn)。而RS的 ZVT 獨具8個(gè)端口，并有強大的Trace Math功能，因此能滿(mǎn)足智能天線(xiàn)的測試需求，能幫助天線(xiàn)廠(chǎng)家對其智能天線(xiàn)進(jìn)行快速、全面的測試。

附：相關(guān)名詞解釋

極化：是指電場(chǎng)在空間的運動(dòng)軌跡。當電場(chǎng)的運動(dòng)軌跡為一條直線(xiàn)，稱(chēng)為線(xiàn)極化；當運動(dòng)軌跡為一個(gè)圓（或橢圓）時(shí)，稱(chēng)為圓（或橢圓）極化。線(xiàn)極化又分為垂直極化（即極化方向與地面垂直）和水平極化；圓極化又分為左旋圓極化和右旋圓極化（采用右手法則）。

天線(xiàn)增益：是指天線(xiàn)在空間某點(diǎn)的輻射功率相對于理想的點(diǎn)源（無(wú)方向性天線(xiàn)，實(shí)際上不存在）在該點(diǎn)的輻射功率之比。

有源反射系數：對一個(gè)多口天線(xiàn)（或微波器件）而言，其他若干個(gè)相關(guān)端口有激勵的條件下某個(gè)端口的反射系數。